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Test equipment

Industry: Semiconductors

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Test equipment

晶圓級燒傷 (WLBI)
Semiconductors; Test equipment

晶圓級燒傷的是某一特定產品在燒作為充分的晶片，利用大規模並行性和較高溫度加速因數的製造技術。

RS-343
Semiconductors; Test equipment

類似于 RS-170，但此編碼標準提供電腦視頻應用程式的高解析度彩色資訊。

驅動程式
Semiconductors; Test equipment

控制特定的硬體設備，如資料獲取板或印表機的軟體。

色相
Semiconductors; Test equipment

顏色之間的區別。紅色、 藍色、 綠色和黃色的色調的例子。白色、 黑色和灰色，不考慮色相，因為他們是強度，不是顏色。

傾斜
Semiconductors; Test equipment

不同的傳播信號起源和設備的針腳 （或其他點，例如，探頭） 之間的時滯效應。

缺陷級別
Semiconductors; Test equipment

設備的分數運，可以預計會有缺陷，（即。逃脫） 由於不完整的測試覆蓋率。通常被表示為百分比數位。

互調
Semiconductors; Test equipment

兩類信號在非線性器件的混合。這就產生了信號在頻率都是原始信號的整倍數不同的總和。

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