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Test equipment

Industry: Semiconductors

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Test equipment

參數故障
Semiconductors; Test equipment

這些錯誤是由過程或環境變化產生的元件參數值的變化引起的。

故障
Semiconductors; Test equipment

這個術語指類或概念的缺陷類型。最常見的是卡類型或故障類。在 EDA 和學術界，故障是一個軟體模型的缺陷或任何類別的缺陷。

比較
Semiconductors; Test equipment

將功能的資料應用到一個比較器並獲得回應。

跟蹤
Semiconductors; Test equipment

為了監測程式的執行和報告的動作順序進行。

格式
Semiconductors; Test equipment

以生產波形從模式的資料和格式模式的計時資訊。

面具
Semiconductors; Test equipment

要設置用來忽略比較的結果的比較器狀態。

力
Semiconductors; Test equipment

為了刺激 DUT 銷格式模式資料。

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