Test equipment

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Industry: Semiconductors

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抑制

Semiconductors; Test equipment

要關閉驅動程式，將其放在接近開路狀態。

寬容

Semiconductors; Test equipment

寬容是元件所允許的偏差（例如，R、 C、通用汽車公司，Cgs，等）及其測量的輸出，如電壓大小。元件有所變化，寬容是元素相對其標稱值的偏差。

影子邏輯

Semiconductors; Test equipment

使用者定義的邏輯 (UDL) 只能從嵌入式核心的輸入輸出連接埠訪問（即。IP）。核心說這有可能降低的可測試性的邏輯在那個陰影的影子。的測試添加訪問的核心埠據說光將目光投向或刪除陰影。 ...

扇出

Semiconductors; Test equipment

扇出是一個設備驅動一定數量的其他設備的能力。扇出簡便地測定發現輸出驅動電流源和目的地輸入電流的要求。扇出有一個副作用；作為扇出或負載的數目，增加了信號下降的上升時間。扇出有兩種形式：，司機不得不源和匯所需的數量的電流。隨著輸出的變化從低到高驅動程式需要源電流，並作為驅動程式更改從高到低的驅動程式需要下沉所需的數量的電流。 ...