Industry: Semiconductors
查找邊緣通過檢查圖像的圖元值的突然變化的一種技術。
那按順序使用在 Adc 技術與類比輸入產生一個輸出數位詞相比，一系列逐漸變小的二進位加權值。
在數位網路上傳輸高速突發資料包的一種技術。
測試向量或測試設定條件是一套適用于設備-下-測試 （DUT），徵求一個已知的輸出在一個給定的測試測量節點的刺激。
停止的第一個錯誤而不執行任何診斷、 表徵或非限制檢查實際測量的實驗中最低及最高限度。
引腳名稱通道數對的陣列。
熱電偶電路中的溫度變化可以彌補人工參考水準。
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