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Semiconductor quality

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矽片多接受度測試
Semiconductors; Semiconductor quality

積體電路矽片多以確定其可接受性類 S 設備的程式集的測試。

megarad
Semiconductors; Semiconductor quality

能夠承受的 106 輻射 (Si) 的總劑量輻射或更沒有顯著的性能退化。

半月板
Semiconductors; Semiconductor quality

當地語系化凸包通過的帶頭作用突出的區域。

金屬門
Semiconductors; Semiconductor quality

捏造與金屬 （通常鋁） 作為柵電極 MOS 過程。

金屬熔體
Semiconductors; Semiconductor quality

由於極端力量接觸，通常出現人員短時間內，高電流脈衝半導體金屬化熔化。

金屬化運行
Semiconductors; Semiconductor quality

很多的晶圓片金屬化在同一時間。由於晶片容納由蒸發 (即金屬化) 分庭的數目是經常小於晶片擴散分庭容納的人數，這是可能有幾個金屬化運行來自同一晶圓片運行的。 ...

微裂紋
Semiconductors; Semiconductor quality

內金屬或其他材料的半導體器件，通常不探測使用光學放大倍率非常小裂縫。在金屬化方面，微裂紋最通常發生在接觸的步驟。微裂紋可能導致電路中不連續性。 ...

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