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Test equipment

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內置自我測試 (BIST)

Semiconductors; Test equipment

BIST 基本上生成到積體電路上的小測試儀模型以便它可以測試本身。

基於缺陷測試 (德伯特)

Semiconductors; Test equipment

測試開始看 fab 缺陷密度、 電路佈局和創建的測試集,會發現最有可能影響設備缺陷程度的缺陷的發展理念 (記住設置)。與更傳統的方法,力求得到可能的故障覆蓋率最高,而不考慮其對產量的影響及缺陷的水準。 ...

測試 (DFT) 設計

Semiconductors; Test equipment

設計用於測試是為了方便有效、 價格低廉的測試添加到積體電路的硬體鉤子的做法。

很多

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在生產設備、 半導體器件,通常從同一生產運行中,一組視為一個單元。

直接記憶體存取 (DMA)

Semiconductors; Test equipment

在測試中,DMA 指的體系結構,允許直接定址功能和嵌入式儲存體的可觀性。

單調性

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隨著它的數位代碼輸入類比輸出增加運轉正常 DAC 的特性。

DUT 夾具

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介面測試頭向下測試設備 (DUT) 插座、 探針卡或連接器設備處理常式對於電路板。它已向伴侶 pogo 與墊 引腳上的測試頭針組卡,包括電源端子,信號線。 ...

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