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Test equipment
Industry: Semiconductors
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Test equipment
基於缺陷測試 (德伯特)
Semiconductors; Test equipment
測試開始看 fab 缺陷密度、 電路佈局和創建的測試集，會發現最有可能影響設備缺陷程度的缺陷的發展理念 （記住設置）。與更傳統的方法，力求得到可能的故障覆蓋率最高，而不考慮其對產量的影響及缺陷的水準。 ...
DUT 夾具
Semiconductors; Test equipment
介面測試頭向下測試設備 (DUT) 插座、 探針卡或連接器設備處理常式對於電路板。它已向伴侶 pogo 與墊 引腳上的測試頭針組卡，包括電源端子，信號線。 ...
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