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Industry: Semiconductors

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Test equipment

內置邏輯塊觀察員 (比爾)
Semiconductors; Test equipment

比爾是可以狀態寄存器、 掃描寄存器、 線性回饋移位暫存器或根據它的模式引腳的狀態 MISR 能文能武的邏輯電路。BILBOs 有時用於級聯大型組合邏輯 BIST ...

X.25
Semiconductors; Test equipment

CCIT 標準描述交換資料包網路資料的處理。

高通濾波器
Semiconductors; Test equipment

(1) 數學操作，強調在圖像中的細節。(2) A 電路，類比信號中的低頻成分的衰減。

波形生成語言 (WGL)
Semiconductors; Test equipment

WGL 是 de facto 標準 ATPG 和向量生成。大多數模式開發工具支援 WGL 和有專攻 WGL 轉換為各種測試儀本機向量格式的協力廠商工具。

自動內置自我測試 (ABIST)
Semiconductors; Test equipment

1） 記憶體 BIST 嵌入式記憶的表單。2） 一種形式的 BIST 針對測試類比電路。

警衛隊樂隊
Semiconductors; Test equipment

1.(device testing) 作調整 DUT 試驗規範考慮到帳戶測試系統的準確性、 可重複性、 再現性、 相關性。

連結
Semiconductors; Test equipment

1.(掃描) 資料送入掃描引腳上一個掃描時鐘週期 Ñ 掃描相當於一個平行的向量。

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