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Test equipment

Industry: Semiconductors

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Test equipment

樣品和舉行 (S/H)
Semiconductors; Test equipment

獲取類比電壓並將其暫時存儲在電容器電路。此電路也稱為採樣保持放大器 (長沙)。

事件計數器
Semiconductors; Test equipment

一種電路，計數的某一特定條件的匹配項。

比較器
Semiconductors; Test equipment

電路，其輸出是一個數位邏輯水準，取決於它的輸入的信號是否高於或低於閾值在指定的時間間隔。

級別敏感掃描設計 （電平）
Semiconductors; Test equipment

掃描設計使用主從閂鎖，有不同的時鐘階段來隔離掃描的每個節點的類型。

相位交替線 (PAL)
Semiconductors; Test equipment

50 Hz 複合彩色視頻標準，用於在西歐、 印度、 中國和一些中東國家。Seealso NTSC，RS-170。

偽隨機模式發生器 (辦學)
Semiconductors; Test equipment

有時用於前端的 BIST 引擎生成偽隨機模式將提交下測試電路的 LFSRs PRPGs。

系統晶片 (SOC)
Semiconductors; Test equipment

將一個或多個處理器內核、 嵌入式的儲存體、 外設介面和有時混合的信號電路單一晶片，形成一個完整的 （或幾乎完全的) 系統集成的實踐。

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