Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductors

Add a new term

Contributors in Test equipment

Become a Contributors

Test equipment

轉換時間

Semiconductors; Test equipment

從那一刻起所需的時間通道到準確的資料是可用的時刻接受審問。通常與 Adc 和 Dac。

隔離電壓

Semiconductors; Test equipment

隔離的電路通常能承受的電壓。隔離電壓被指定從輸入到輸入或從任何輸入到放大器的輸出。

那裡有很多不同種類的混疊，可以發生在 BIST 引擎。當兩條斷層具有相互抵消的簽名中註冊，就會發生最常被討論的類型的別名。換句話說，兩個錯誤出現，使一項權利。其他兩種形式的混疊的調零和 overcounting 線性回饋移位暫存器。Zeroing 是指一個零線性回饋移位暫存器，可以重置樣對線性回饋移位暫存器和清除的先前的測試歷史的發生。Overcounting 時發生一個值或線性回饋移位暫存器序 ...