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Test equipment

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Test equipment

參數檢驗

Semiconductors; Test equipment

測量和驗證的端電壓和電流的特性,在設備 pin。

模式向量

Semiconductors; Test equipment

花型資料應用於和 DUT 在一個測試週期中的預期。

資料記錄

Semiconductors; Test equipment

記錄的選定資訊在一個指定的操作,比如資料記錄設備測試回合期間。

砝碼

Semiconductors; Test equipment

參照平面部分 (接地或不接地) 的不平衡的天線。

遠場

Semiconductors; Test equipment

該區域中,從天線功率通量密度服從平方反比定律。為一個偶極子天線距離超過 l/2 是遠場區域。

線性度

Semiconductors; Test equipment

一條直線的設備回應的關係。

十六進位標記法

Semiconductors; Test equipment

與基地 16 位置的數字系統中的數位表示形式。通常由 0-9、 A-F 表示 十六個十六進位數位

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