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Test equipment

Industry: Semiconductors

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信號信噪比（SNR）

Semiconductors; Test equipment

對雜訊分貝 (dB) 表示的總信號的比值。數位越大越好。信噪比計算的信噪比 = 20 日誌（SignalRMS / NoiseRMS）相關的單位是信號對雜訊和失真比（SINAD）的輸入信號對雜訊和諧波的總和的比例： SINAD = 20 日誌（SignalRMS / （噪音 + 諧波） RMS）同時採樣 / 保持 = 資料獲取技術在其中幾種採樣保持電路樣品幾個不 ...

超文字傳輸協議 (HTTP)

Semiconductors; Test equipment

談判檔傳遞到 Web 瀏覽器從 Web 服務器的協定。

調色板

Semiconductors; Test equipment

顯示可以產生的顏色範圍。

動態範圍

Semiconductors; Test equipment

全面的範圍 (FSR) 的資料轉換器到的最小差別比轉換器可以解決。（動態範圍一般用分貝表示。)

環境水準

Semiconductors; Test equipment

在測試位置存在，當被測設備未處於活動狀態的信號與雜訊值。

每個缺陷萬 (DPM)

Semiconductors; Test equipment

缺陷級別表示為每百萬單位有缺陷的部件。

吞吐率

Semiconductors; Test equipment

在資料轉換系統可以配合指定的精度最高的重複率。

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