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Test equipment

Industry: Semiconductors

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Test equipment

參數
Semiconductors; Test equipment

一個值或位址傳遞給一個函式呼叫 ； 同時也被稱為實際參數。

複合同步
Semiconductors; Test equipment

包含水準同步脈衝、 垂直同步脈衝和均衡脈衝只，無信號參考水準的視訊訊號。

奈奎斯特採樣定理
Semiconductors; Test equipment

一個定理，指出是否你的樣品率 f 信號，採樣的信號將包含沒有關于與上文 f/2 的頻率分量信號的資訊。

矽片
Semiconductors; Test equipment

模的陣列捏造的單片半導體薄、 拋光片。

穗狀花序
Semiconductors; Test equipment

暫態電氣線路引起的例如，載入變奏曲 AC 電源線。

寬頻發射
Semiconductors; Test equipment

具有足夠寬廣、 均勻，、 連續以確保給定的頻率範圍調諧時測量接收機的回應沒有重大變化的光譜能量分佈的排放。

故障字典
Semiconductors; Test equipment

故障字典包含的故障清單中包含的資訊相同，但包括有關如何故障表現包括錯誤位置及對電路元件的影響的資訊。它還可能包括建議的測試條件的 。

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