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Test equipment

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Test equipment

測試儀

Semiconductors; Test equipment

用於評估半導體器件的裝置程式集。

解耦網路

Semiconductors; Test equipment

防止影響其他裝置、 設備或不正在測試的系統從應用到正在測試的設備的測試信號的電路。

衝動

Semiconductors; Test equipment

短持續時間短于一個週期在正在審議的最高頻率電磁脈衝。

類比到數位轉換器 (ADC 或 A/D 轉換器)

Semiconductors; Test equipment

數位輸出的類比信號輸入成正比的電子電路。

有源濾波器

Semiconductors; Test equipment

有源電路裝置,通常運算放大器,結合電阻器和電容器的電子篩檢程式。通常情況下,有源電力濾波器更密切地配合理想濾波器比無源濾波器。

抗混疊濾波

Semiconductors; Test equipment

衰減之前其轉化為一個數位值,類比信號雜訊和高頻成分的篩選器。

帶通濾波器

Semiconductors; Test equipment

一個篩選器,傳遞只有那些信號頻率之間兩個集的頻率。

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