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Test equipment

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Test equipment

鉗位電壓

Semiconductors; Test equipment

加上一個二極體或其等效限制過渡或電流供給的電壓漂移的固定的電壓。

內置自檢 (LBIST) 的邏輯

Semiconductors; Test equipment

一種內建自測試針對測試隨機邏輯形式。通常情況下,這通過 PRPGs 餵養掃描邏輯和輸出連接到 MISRs。所有的商業形式的 LBIST 需要完全掃描的基礎設施。 ...

固件

Semiconductors; Test equipment

永久記錄在 ROM ; 記錄程式它實際上是硬體的一塊執行軟體功能。

交叉組合程式

Semiconductors; Test equipment

在一台電腦上運行,並為另一種類型的電腦生成指令的程式。

矽片地圖

Semiconductors; Test equipment

對矽片通過/失敗資訊顯示、 參數變化或一些其他特徵的可行骰子的陰謀。

功能測試

Semiconductors; Test equipment

適用于設備的模式向量並檢查輸出內容以確定該設備根據其真值表操作的過程。

幕後列印程式

Semiconductors; Test equipment

佇列作業的幕後列印 (或其他任務) 的過程。

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