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Test equipment

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Test equipment

調試器

Semiconductors; Test equipment

用於測試程式開發、 設備表徵、 來料檢驗,生產車間故障排除的過程。

副處理器

Semiconductors; Test equipment

設有 CPU 為了提高運行速度的處理器。為例,一種數位信號處理 (DSP) 晶片可以釋放 CPU 從不必執行重複的數學運算。

中斷

Semiconductors; Test equipment

需要從一台電腦的 CPU 立即注意的信號。

移位暫存器定序器 (秘書長特別代表)

Semiconductors; Test equipment

一個簡單的辦學 (單輸出) 在此處定義因為在樹樁的定義中使用它。

I/O 位址

Semiconductors; Test equipment

CPU 使用來區分不同的板在一個系統中一個特定的硬體電路和軟體值。

巴倫

Semiconductors; Test equipment

一種天線平衡的設備相匹配 (同軸電纜飼料行) 不平衡負載平衡或對稱負載 (偶極子天線)。("雙絞線"源自于"平衡-到-非平衡。")

儀錶放大器 (IA)

Semiconductors; Test equipment

放大器電路,具有高阻抗差動輸入和高共模抑制比。

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