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Test equipment
Industry: Semiconductors
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Test equipment
功能測試
Semiconductors; Test equipment
也被稱為行為學測試。測試積體電路的戰略，側重于電路的預期功能。缺陷為目標的一種間接的方式。測試方法密切平行的電路被測試的應用空間。
多個輸入的移位暫存器 （MISR）
Semiconductors; Test equipment
也稱為多個輸入簽名登記。MISRs 是簡單地配置為簽名分析儀的產生器。MISRs 上經常使用的內建自測試引擎後端來捕獲和壓縮從被測電路的輸出序列。
多諧振盪器
Semiconductors; Test equipment
一類的設計生產方形波或脈衝電路。不穩定振盪器產生連續脈衝沒有外部刺激或觸發器。單穩態振盪器產生的一些決策者的單脈衝週期的時間觸發時，只。雙穩態振盪器產生兩個國家要麼一種穩定的直流輸出。無論是高或低。外部刺激或觸發器都需要雙穩態電路以更改狀態，要麼高，低或低到高。 ...
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21 CFR Part 11 -- Electronic Records and Electronic Signatures
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