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Test equipment

Industry: Semiconductors

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Test equipment

災難性故障
Semiconductors; Test equipment

這些都是公開和突然或大幅度變化導致元件值的短路故障。

電場強度
Semiconductors; Test equipment

電場或磁場中，在遠場的測量。（V/m，A 單位表示/m 或 W/m.)

記憶體模組
Semiconductors; Test equipment

記憶體模組，可能有董事會，每兩個包含 18 米或 72 米的記憶體。這種記憶可以用於 DBM、 ECR 或向量測試。

欄位
Semiconductors; Test equipment

(1) 隔行掃描的視頻圖像中奇數或偶數行的集合。時處理隔行掃描的視頻顯示，將使用 場的概念。（2） A 大打開網站的測試可以採取的地方。

可程式設計邏輯電平
Semiconductors; Test equipment

信號與參考電壓等級適用于驅動程式和比較器 rails。

中斷處理常式
Semiconductors; Test equipment

處理服務的插斷要求的軟體常式。

法規遵從性電壓
Semiconductors; Test equipment

電壓範圍電流源或接收器可以出示在其恒定的電流規格範圍內。

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