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Test equipment
Industry: Semiconductors
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Test equipment
法拉第遮罩
Semiconductors; Test equipment
用來包含或控制電場的導電材料。它放在一台變壓器，以減少耦合電容與共模雜訊的小學和中學繞組之間的 。盾提供靜電遮罩同時通過電磁波。沒有理由需要。 ...
疲勞試驗
Semiconductors; Test equipment
適用于您的測試標本瞭解它將如何在實際使用中的類似條件下執行迴圈荷載作用。負荷應用程式可以是固定的負載的反復的應用或在職載荷類比。裝載應用程式可能重複數以百萬計的次數和幾個上百次每秒。 ...
稽核線索
Semiconductors; Test equipment
(1) (ISO) 資料的邏輯路徑連接一系列的事件，用於跟蹤已受影響的記錄的內容的交易形式。(2) A 按時間順序記錄系統活動即足以使重建、 審查和考試環境和周圍或導致事務的路徑中的每個事件從一開始，到最後結果輸出的活動序列。 ...
對於所有系統 （ATLAS） 的縮寫的測試語言
Semiconductors; Test equipment
標準測試程式設計語言開發的 IEEE 和維護根據各種標準，如 IEE 標準 416 和 716。阿特拉斯 2000年也存在。
