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Test equipment

Industry: Semiconductors

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Test equipment

多工器 D (多工器-D)
Semiconductors; Test equipment

掃描設計，使用帶有輸入多工器的 D 型觸發器來隔離掃描的每個節點的類型。這是最廣泛使用的掃描元素類型。

雜訊
Semiconductors; Test equipment

不良的電氣干擾信號。

多網站測試
Semiconductors; Test equipment

使用與多個測試網站一個單個的測試程式和單個測試頭要測試多個設備，在平行或序列。的順序測試的兩個或多個設備被稱為"乒乓"測試。

multidie 探測
Semiconductors; Test equipment

用探針在晶圓上的幾個骰子上一次進行多個模具並行測試。

假接受
Semiconductors; Test equipment

當故障電路在測試閾值內運作時，一個測試程式可以傳遞它們時他們事實上應予以拒絕。錯誤輸出分佈的上限閾值內出現故障，就會發生 假驗收。

錯誤拒絕
Semiconductors; Test equipment

當閾值收緊比他們需要的時候，無故障電路可以被拒絕，因為他們標稱值不屬於狹義的限制。

圖像分析
Semiconductors; Test equipment

從圖像中提取特徵和描述的技術。

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